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摘要
随着航天技术的快速发展，对电子元器件的功能和性能要求也越来越高，而目前高质量等级电子元器件的研制和应用相对落后，不能满足宇航型号的使用需求。迫切需要吸纳一些功能和性能满足需求的低等级元器件，但这些低等级元器件的可靠性实验要求、辐照实验要求和工艺要求等可能存在不满足宇航型号要求的情况，或者没有可靠性的数据支撑，无法直接使用，需要对这些低等级元器件进行可靠性的评估。本文针对低等级电子元器件在某宇航型号应用的问题进行了分析，并对低等级元器件在航天应用的可靠性评估方法和试验方法做了研究和分析总结。
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单位中国电子科技集团公司第十研究所
