TMR+Scrubbing SRAM加固型FPGA辐照实验研究

作者：孙野; 陈晖照

来源：电子科技, 2013, (10): 139-141.

DOI：10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2013.10.022

• 三模冗余
• 动态刷新
• SRAM FPGA TMR
• scrubbing
• SRAM FPGA

针对卫星平台和载荷对大规模集成电路的依赖性越来越强,尤其是SRAM型FPGA。作为信号处理核心器件,FPGA的单粒子效应备受关注。文中研究了三模冗余和动态刷新两种加固方法,并进行重粒子试验验证,采用不同能量的粒子以对照实验的方式验证了加固方法的有效性,试验结果显示,文中设计的加固方法可以提高抗单粒子性能2倍以上。

• 单位
  山东航天电子技术研究所