<正>SiO2是铁矿石主要杂质成分之一，是评价铁矿石品质的重要指标，常采用X射线荧光光谱法[1]测定其含量。测定前，需要先用具有一定浓度水平范围的标准样品系列建立校准曲线，校准曲线性能检验不仅是方法确认和验证的重要内容，还是测量溯源的有效途径，获得满意测量结果的基础。大多数日常检测中，仅用校准曲线的相关系数作为曲线质量的评判准则是不够的，这是因为相关系数只能说明数据点是否近似在一条直线上，而不能评估校准曲线的精密度和准确度。
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