一个疑似银离子迁移所致故障案例的分析

作者：张建平

来源：电子测试, 2018, (17): 29-30.

DOI：10.16520/j.cnki.1000-8519.2018.17.011

• 电池
• 漏电
• 继电器
• 银离子迁移

本文针对本公司的某型产品进行详细的故障分析,不断寻找产品故障的深层次原因,并排出其他原因。最终确定故障原因为银离子迁移,并依此提出一个合理的产品故障解决方案。

• 单位
  中国船舶重工集团公司第七二六研究所