本文利用透射电子显微镜对外延生长的BiFeO3/DyScO3[110]O薄膜中复杂畴组态进行了细致的研究。衬度分析表明薄膜中存在由锯齿状畴和界面纳米畴组成的复杂畴。像差校正电镜研究发现锯齿状畴的顶点通常位于180°畴壁、109°畴壁和71°畴壁的交点,纳米畴位于薄膜与衬底的界面位置。且界面处存在纳米尺寸缺陷,分析得出这种界面纳米缺陷促进了纳米畴的形成,进而诱导复杂畴结构的形成。
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