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摘要
在辐射制冷、光热转换、红外隐身等领域，红外发射率是表征材料光学性能的重要参量。本文利用光学矩阵法并结合等效媒质理论对不同相体积分数和不同厚度的SiO2/TiO2复合涂层体系的红外发射率、可见及近红外波段的反射率等进行了模拟计算。利用上述方法可以对光学复合涂层红外发射率、反射率等光学性能参数进行预测，进而有效提高复合涂层相体积分数、膜厚等工艺参数的优化效率，减少实验工作量。该方法对于实现复合涂层的光谱选择性调控具有重要意义。
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单位北京航空航天大学; 物理学院
