采用Talbot效应莫尔条纹的子波面斜率测量

作者：侯昌伦; 徐建锋; 白剑; 杨国光

来源：光电工程, 2007, 34(11): 61-64.

DOI：10.3969/j.issn.1003-501X.2007.11.013

• 子波面斜率
• Ronchi光栅
• Talbot效应
• 莫尔条纹

为了实现大口径长焦距透镜波面精确测量,提出了一种基于朗奇光栅泰伯效应、莫尔条纹技术的子波面斜率测量方法。当子孔径光束照射在朗奇光栅上时,在光栅后周期位置出现光栅的泰伯像,如果将另一朗奇光栅放在光栅泰伯像的位置,在这块光栅后就会形成莫尔条纹,莫尔条纹会因子孔径光束的斜率微小变化而产生移动,通过计数移动的莫尔条纹数就可以得出子孔径光束的波面斜率。文章推导了子波面斜率的计算公式并进行了理论分析,从实验上对理论分析进行了验证。这种方法能够用于大口径波面检测中子孔径波面斜率的精确测量。

• 单位
  现代光学仪器国家重点实验室; 浙江大学