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摘要
采用光学浮区法生长出了纯净不含杂相的CuFeO2晶体,并探究了生长速率对晶体质量的影响;由于CuFeO2的不一致熔融特性,低生长速率0.5 mm/h是必要的,且为了稳定融区,生长过程中灯的功率需要仔细调整。用XRD、SEM、PPMS对晶体样品进行了表征并与高温固相法所制得的样品进行了对比。XRD结果显示,由液相冷却制备得到的晶体样品为单一的铜铁矿结构,不含杂质相;SEM图像表明,晶体样品更加致密,样品无孔隙;M-T曲线显示出,相比于陶瓷样品,晶体样品反铁磁性稳定性和磁耦合相互作用被削弱。
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