SO_4~(2-)/SiO_2表面酸性的红外光谱和密度泛函理论研究

作者：郭岱石; 马紫峰; 蒋淇忠; 叶伟东; 李春波

来源：催化学报, 2007, (07): 627-634.

• 二氧化硅
• 硫酸根
• 表面酸性
• 吡啶吸附
• 红外光谱
• 密度泛函理论 silica
• sulfate anion
• surface acidity
• pyridine adsorption
• infrared spectroscopy
• density functional theory

对介孔SiO2及硫酸根促进的SiO2样品进行了原位吡啶吸附红外光谱测试,分别建立了硫酸根促进前后的SiO2表面原子簇模型,用密度泛函理论对其吡啶吸附行为进行了计算,分析了SO42-/SiO2表面酸性产生的机理.实验和计算结果表明,SO42-/SiO2表面不存在Lewis酸中心,原位红外谱图中表征Lewis酸性的特征峰对应于氢键吸附吡啶的环振动,这种氢键作用因SiO2表面的硫酸根促进而得到加强.HSO4-螯合结构为SO42-/SiO2表面Brφnsted酸中心,其酸强度强于表面磺酸基团修饰的介孔SiO2材料SO3H-MSU,而弱于HZSM-5.SO42-/SiO2的酸催化活性源于其表面的Brφn...

• 单位
  上海交通大学; 浙江医药股份有限公司新昌制药厂