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摘要
研究宽频电磁脉冲(Wide-band electromagnetic pulse, WEMP)辐照对正常细胞的损伤作用,寻找辐照参数与细胞凋亡之间的作用规律,为探索WEMP辐照损伤机理模型提供实验依据。利用Cell Counting Kit-8检测WEMP辐照后细胞的活力变化,采用流式细胞术分析细胞凋亡损伤情况,利用统计分析和数据拟合的方法探讨WEMP场强、脉冲个数与细胞凋亡之间的作用规律。结果表明,在本实验条件下,场强与脉冲个数都是引起人羊膜上皮细胞(AECs)凋亡率增加的因素,其中,电场强度为主要因素,脉冲个数为次要因素,两者之间存在交互作用。细胞凋亡率与电场强度之间呈现出Logistic函数规律。
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