本文首次提出集成电路动态闩锁检测方法,用于检测集成电路的真实闩锁防护能力等级,从而为军用集成电路产品闩锁检验提供依据。文中研究了FPGA和D/A转换器等典型集成电路的动态闩锁配置程序设计和试验程序设计等,对FPGA和D/A转换器进行了动态闩锁试验验证,并和静态条件下的试验结果进行对比。试验结果表明,动态条件下的闩锁效应相对静态有较明显的恶化。
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
