短段射频同轴电缆组件插入损耗测试研究

作者:许小挺; 平涛; 刘燕樑; 闫晓栋
来源:光纤与电缆及其应用技术, 2023, (05): 38-41.
DOI:10.19467/j.cnki.1006-1908.2023.05.010

摘要

为了满足高性能短段(1 m)射频同轴电缆组件插入损耗准确评估的需求,对其相关测试方法展开了研究。针对采用GB/T 17738.1—2013标准试验方法测得的短段射频同轴电缆组件插入损耗容易波动、不稳定的问题,通过研究提出了在测试系统中添加2个30 dB衰减器进行校准的优化测试方法。结合实际测试数据,对优化测试方法进行了测量不确定度评定。评定结果显示,相对于标准试验方法,优化测试方法具有更小的测量扩展不确定度,所获测试结果更加准确可靠。

  • 单位
    中国电子科技集团公司第二十三研究所

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