ODN中光纤的宏弯损耗对ONU弱光的影响

作者:丁为民; 代岭; 杨珩
来源:电信工程技术与标准化, 2021, 34(06): 77-80.
DOI:10.13992/j.cnki.tetas.2021.06.016

摘要

本文通过对ONU弱光的ODN链路衰耗进行分析,发现ODN链路的下行衰耗严重超标的现象,在用OTDR进行故障定位并测试光纤在相应波长的宏弯损耗后,得出光纤的宏弯损耗是导致ODN链路下行衰耗超标的原因,进一步对ODN链路的入户段光缆进行衰耗测试,从而验证了宏弯损耗是引起ONU弱光的主要原因。