为减少平面阵列电容成像过程中的无效数据，提出一种基于层次聚类的平面阵列电容聚焦成像方法。根据平面阵列电极电容数据的特点，利用层次聚类算法对电容数据进行分类，根据分类结果将电极分为无效电极和有效电极，并进一步确定感兴趣区域，利用有效电极产生的电容值进行电容成像，从而达到减少无效数据，提高计算效率，加快图像重建速度的目的。对绝缘材料进行缺陷探测的仿真实验，结果表明：数据优化之后得到的重建图像与数据优化之前得到的重建图像相比，在减少数据量加快图像重建速度的同时，可保证图像重建的精度。
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