迎接“智慧计量”与大数据时代 第三届（上海）国际计量测试技术博览会召开

作者：白雪洁

来源：中国计量, 2021, (06): 15-16.

DOI：10.16569/j.cnki.cn11-3720/t.2021.06.011

<正>本刊讯(记者白雪洁)在"5·20世界计量日"到来之际,由中国计量科学研究院、上海市计量协会主办,上海高登商业展览有限公司承办的第三届中国(上海)国际计量测试技术博览会于5月18日至20日在上海市世博展览馆隆重召开。博览会特邀上海市经济和信息化委员会副主任刘平、上海市市场监管局副局长徐徕、中国计量科学研究院党委副书记徐英国、上海市计量协会会长王路等领导出席并致辞。