电磁继电器触点表面的SEM和XPS研究

作者：徐富春; 王水菊; 汤丁亮; 张棋河; 林秀华; 陆宁懿

来源：厦门大学学报(自然科学版), 2016, (04): 857-861.

• 电磁继电器
• 触点表面
• 光电子能谱
• 扫描电子显微镜

使用 X射线光电子能谱 (XPS)和扫描电子显微镜 (SEM)等表面分析方法 ,研究未启封、使用过未失效和使用过失效的继电器触点表面的形貌、组份和结构 .结果表明 ,经过使用后触点表面烧蚀严重并发生磨损 ,其组份中含 Ag、Sn、C和 O等原子 .C和 O的 XPS峰显示 ,触点表面氧化膜和碳化物的形成 ,导致接触电阻增大 ,从而影响继电器的稳定性和使用寿命

• 单位
  固体表面物理化学国家重点实验室; 厦门大学