纳米材料的表征是纳米技术应用和发展的基础，特别是测量单个纳米颗粒的光谱近年来引起了广泛关注，它可以排除平均效应从而对其本身及周围环境进行精确的定量分析。为此多种近场或远场探测纳米颗粒的方法被提出，其中空间调制测量（SMS）技术可以对消光截面谱的绝对大小进行高信噪比的测量。本文着重介绍SMS技术的调制方式、发展历程、应用以及最新研究进展，并对该技术在未来的应用前景进行展望。
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