固体电介质真空沿面闪络研究进展

作者：李盛涛; 聂永杰; 闵道敏; 潘绍明

来源：电工技术学报, 2017, 32(08): 1-9.

DOI：10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.2017.08.001

• 固体电介质
• 真空沿面闪络
• 电荷输运
• 倍增
• 耦合

针对真空中复合绝缘体系的耐电强度受到沿面闪络现象限制问题,综述了国内外真空沿面闪络相关的研究进展。研究发现,真空中固体绝缘介质的沿面闪络性能受老练方式、介质的表面特性及体特性、介质表面沉积电荷、绝缘体系的电场分布等因素影响。机理分析认为真空中的沿面闪络现象实质上是高场下电荷在气-固界面的输运行为,其过程涉及到介质表层中的电荷捕获/脱陷特性、二次电子的发射特性、以及气相中的气体(或解吸附气体)分子的碰撞电离/电子倍增等过程,沿面闪络的发展和形成是以上几个因素相互耦合作用结果。基于以上分析及认识,认为可以从改变材料表面特性及体特性和改善整个绝缘体系的电场分布方面,来提升真空沿面闪络电压。

• 单位
  电力设备电气绝缘国家重点实验室; 西安交通大学