采用片内PLL实现实速扫描测试的方案

作者：范小鑫; 李华伟; 胡瑜; 李晓维

来源：计算机辅助设计与图形学学报, 2007, (03): 366-370.

• 锁相环
• 实速测试
• 扫描测试 phase-locked-loop (PLL)
• at-speed test
• scan test

提出了一种采用片内PLL实现实速扫描测试的方案.在该方案中,移入测试向量时使用测试仪提供的时钟,激励施加和响应捕获采用片内PLL生成的高速时钟,降低了实速扫描测试对测试仪时钟频率的要求.在AC’97音频控制器电路上进行的实验,证实了该方案的可行性.

• 单位
  中国科学院大学; 中国科学院计算技术研究所