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摘要
作为相辅相成的无损检测技术，中子CT(Computed Tomography)相比X射线CT可提供同一样品的不同信息，在众多领域发挥着越来越重要的作用。然而，中子探测效率低、成像时间长、层析扫描模式单一是中子成像系统目前面临的主要难题。本文综述了中子CT在板状构件、大尺寸筒状构件层析成像方面的应用，综合分析了国内外相关学者在中子稀疏角度投影CT重建、筒状构件中子外部CT扫描、板状构件中子CL(Computed Laminography)扫描等方面的研究工作。针对中子层析扫描效率低下、中子外部CT与CL成像质量欠佳等问题，归纳了中子多模式层析成像未来的研究方向和发展趋势。
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