分子器件中金属-分子-金属结的电导测量方法

作者：蔡元霸; 文惠敏

来源：结构化学, 2009, (08): 1039-1062.

DOI：10.14102/j.cnki.0254-5861.2009.08.007

• 分子
• SAM
• 针尖
• 单层
• 扫描隧道显微镜
• 烷基硫醇
• 金属
• 金属材料

<正>近年来发展了有关两端金属结纳米,特别是单分子的电性能(包括分子电导/开关/整流/负微分电阻/库仑台阶等)测试的若干重要方法。其测量装置可想象为:金属-分子-金属结。作为分子或纳米器件,它要求被测量分子与电极有良好的电接触性、机械稳定性、实验的可重

• 单位
  结构化学国家重点实验室; 中国科学院福建物质结构研究所