基于远区电磁场分布的共形承载天线的罩体缺陷检测方法

作者：李鹏; 许万业; 段宝岩; 黄进; 宋立伟; 周金柱; 张逸群; 崔传贞

来源：2014-03-24, 中国, CN201410113630.X.

本发明涉及一种基于远区电磁场分布的共形承载天线的罩体缺陷检测方法,其特征在于,包括如下步骤：(1)建立无罩共形承载天线的分析模型；(2)对天线阵面表面的近场分布进行仿真；(3)测量带罩共形承载天线的远场；(4)对带罩共形承载天线的罩体进行网格划分；(5)根据步骤(2)仿真所得天线阵面表面的近场以及步骤(3)所测带罩天线的远场,反求出天线罩罩体各处的透射系数；(6)根据步骤(5)罩体各处的透射系数,反求出天线罩罩体各网格处的材料厚度,获取材料缺陷的形状和位置。本发明由于根据无罩天线的近场和带罩天线的远场来确定共形承载天线的罩体的材料缺陷,因而与现有技术相比,实现对封装后罩体的材料缺陷进行检测。

• 单位
  西安电子科技大学