摘要

目的:比较应用椅旁CAD/CAM技术,三种不同全瓷材料制作的髓腔固位冠边缘和内部适合性的差异,以期为临床全瓷材料的选择提供参考。方法:用钴铬合金制作一个髓腔固位冠基准模型,并复制出36个超硬石膏模型,随机分为3组,采用Cerec AC扫描获取光学模型并制作修复体,粘接后,包埋、切割,利用三维测量系统测量髓腔固位冠边缘及内部粘接剂厚度并进行统计学分析。结果:三种全瓷材料边缘粘接剂厚度均小于120μm,内部的粘接剂厚度均小于200μm。在边缘、轴牙合角和轴髓角处,Celtr a R Duo的粘接剂厚度(84.69±8.90μm,129.89±17.86μm,166.63±21.71μm)分别小于Cer ec block(107.36±8.98μm,161.13±19.35μm,198.86±11.56μm)和IPS e.max CAD(110.85±4.58μm,183.81±22.00μm,195.81±13.25μm),且差异具有统计学意义(P<0.05);而Cerec block和IPS e.max CAD之间差异无统计学意义;在其它测量位点三种材料的粘接剂厚度两两比较差异均无统计学意义。结论:基于本研究结果,应用椅旁CAD/CAM技术制作髓腔固位冠时,三种全瓷材料的边缘和内部适合性都能达到临床要求,Celtra R Duo的边缘和内部适合性优于IPS e.max CAD和Cer ec block。

  • 单位
    北京大学; 首都医科大学附属北京口腔医院