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摘要
随着FPGA片内纠检错技术的发展，Xilinx公司在旗下的SRAM型FPGA上应用了一种名为软错误修复(SEM)的加固技术，大幅提升了配置RAM的单粒子软错误检测和修复效率。但这种片内加固技术本身需要使用一定的逻辑和存储资源，同样也有发生单粒子软错误的风险。本文分析了应用SEM加固技术的必要性和存在的问题，提出一套基于SEM的FPGA抗单粒子翻转解决方案，并给出了在XC7K410T型FPGA上的试验验证结果，验证了加固技术的有效性。
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单位上海航天电子技术研究所
