LM算法在OCD低频噪声参数拟合中的应用

作者：周求湛; 王树勋; 钱志鸿

来源：吉林大学学报（工学版）, 2004, (01): 132-134.

DOI：10.13229/j.cnki.jdxbgxb2004.01.027

• 光电耦合器件
• 低频噪声
• LM算法
• 参数拟合

用测量低频噪声的方法对航天用光电耦合器件(OptoelectronicCoupledDevices,OCD)的可靠性进行了筛选,并在测量大量OCD器件的基础上,采用Levenberg-Marquardt(LM)算法对实际噪声功率谱进行了低频噪声谱参数拟合,进而确定了导致噪声增加的器件内部缺陷。该方法快速有效,为改进光电耦合器件的生产工艺,提高产品的质量和可靠性提供了理论依据。

• 单位
  吉林大学