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摘要
使用正硅酸乙酯(TEOS)作为硅源,采用溶胶-凝胶法在钛白粉表面包覆致密Si O2膜层,对包膜过程的主要影响因素进行研究。用Si O2沉积量和酸溶率综合评价包覆效果,确定了最佳包覆条件。使用胺类分散剂,采用并流加料方式,打浆浓度为200 g/L,温度为60℃,催化剂氨水添加量为4%,水醇比为1∶6.9时,达到最佳包覆效果。对比研究发现TEOS比硅酸钠包膜产物显示出更低的酸溶率和光催化活性,表明TEOS包覆的Si O2膜层具有更高的致密度,包膜产物耐候性更高。红外光谱和扫描电镜表征确定了Si O2膜层以化学键合的方式包覆于Ti O2表面。使用电导率测定方法分析了包膜过程的机理。
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单位攀钢集团研究院有限公司
