利用斜入射光反射差技术探究片状材料的形貌与介电特性

作者:秦凡凯; 孟昭晖; 陈儒; 詹洪磊*; 苗昕扬; 赵昆; 相文峰
来源:物理实验, 2020, 40(02): 7-11.
DOI:10.19655/j.cnki.1005-4642.2020.02.002

摘要

利用斜入射光反射差(OIRD)技术检测了Na2CO3,CaCl2,CaCO3和NaCl矿物晶体压片的表面形貌特征,研究了4种矿物晶体对入射激光的吸收特性和折射率,获取到了4种矿物晶体压片的OIRD成像图.由OIRD成像图可知:CaCl2和Na2CO3对入射的激光吸收较强,CaCO3和NaCl对入射的激光吸收较弱;含Cl-的化合物比含CO32-的化合物的折射率更大.实验结果表明,OIRD技术不仅可以检测样品的表面形貌特征,还能获取样品的介电性质.