摘要

目的:探讨3.0TMR高分辨磁敏感加权成像(SWI)序列对颅脑弥漫性轴索损伤(DAI)的诊断价值。方法:选择临床诊断为DAI的30例患者行SWI及常规序列扫描,观察患者病灶等,对比SWI与常规MR序列对DAI病灶形态、分布、数目显示的敏感性,并分析与哥拉斯哥昏迷(GCS)评分及预后的相关性。结果:130例DAI患者SWI序列平均病灶个数为22.83个,明显高于T1WI、T2WI、T2flair序列的1.5个、2.13个、4.1个,比较差异有统计学意义(X2=11.44,P<0.05);2SWI序列皮髓质交界区、白质区、基底节、脑干、小脑、胼胝体DAI病灶呈边界清晰、大小不等点状、片状、串珠状、条状、团状不均低信号;3GCS分值越高DAI平均病灶数目越少,两者呈明显负相关(r=-0.715,P<0.05);4痊愈、好转、死亡患者DAI平均病灶数目、脑中线累及率依次增高,比较差异有统计学意义(F=9.29,X2=13.52,P<0.05)。结论:3.0TMR高分辨SWI序列对DTI的敏感性优于常规序列,病灶数目与GCS评分具有相关性,能够较好地预测患者预后情况。

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