摘要
目的探讨曲面断层测量法在分析下颌不对称畸形中的可行性。方法选取25例主诉和外观皆无颜面部不对称的患者的曲面断层片(Pa)为对称组,16例颜面部不对称畸形患者的Pa和X线头颅后前位片(PAC)为不对称组。在两组的Pa影像上定位标志点,画出参考线和参考平面,确定相关测量项目。观察各定点位置的可重复性。比较对称组和不对称组的Pa左右两侧测量项目的差异,和两侧相应测量值的非对称率。对不对称组的Pa和PAC的相关测量项目的测量值进行相关性检验。结果用参考线和参考平面辅助定位标志点的离散度<无辅助定位者,颏下点(Me)的离散度>颏孔点(MF)。第1作者前后两次定点的可重复性与另5位测量者相似。对称组Pa大部分测量项目和不对称组Pa所有测量项目两侧测量值的差异皆有统计学意义(P<0.05)。代表垂直向测量值的髁突点与下颌角点的距离(CP-GoP),两组平均相差4.73 mm(P<0.01);代表水平向测量值的下颌角点与颏孔点的距离(GoP-MF),两组平均相差5.77 mm(P<0.01)。Pa与PAC水平向测量结果有较强的相关性(相关系数:0.780.85,P<0.01),垂直向测量结果相关性较差(相关系数:0.64,P<0.01)。结论参考线和参考平面辅助定位可提高Pa定点的可重复性,使定点更加明确;Pa影像颏孔点可用于曲面断层测量;曲面断层测量法可作为评价下颌是否不对称的方法。
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