三辛胺修饰碳糊电极测定电子引脚中的Cr(Ⅵ)

作者：陈智栋; 邓雪爽; 王文昌; 周益明; 许娟

来源：分析试验室, 2010, (02): 73-76.

DOI：10.13595/j.cnki.issn1000-0720.2010.0051

• 碳糊电极
• 三辛胺
• Cr(Ⅵ) Carbon paste electrode
• Trioctylamine
• Cr(Ⅵ)

采用三辛胺(TOA)修饰碳糊电极(TOA/CPE)测定了Cr(Ⅵ)含量,并考察了最佳的实验条件。当富集时间为10 min,富集介质为0.15 mol/L H2SO4时,TOA/CPE能够有效地富集Cr(Ⅵ)。以溶出伏安法测定Cr(Ⅵ),在-0.45 V(vs.SCE)处有灵敏的还原峰,峰电流与Cr(Ⅵ)浓度在5.0×10-7~1.0×10-3mol/L范围内呈现良好的线性关系。干扰试验显示TOA/CPE对Cr(Ⅵ)具有高选择性,能够在Cr(Ⅲ)浓度是Cr(Ⅵ)600倍时准确测定Cr(Ⅵ),检出限达3.4×10-9mol/L(S/N=3)。TOA/CPE测定了实际样品电子引脚中的Cr(Ⅵ),实验...

• 单位
  常州大学