摘要

水稻(Oryza sative)细菌性条斑病(简称“细条病”)是主要的水稻病害,迄今为止尚未定位得到细条病抗性的主效基因,因此,挖掘细条病抗性基因具有重大研究意义,同时为抗性育种提供新的基因资源。本研究通过全基因组关联分析方法对207份水稻品种的细条病抗性表型的调控位点进行鉴定,分别利用一般线性模型(general linear model, GLM)和混合线性模型(mixed linear model, MLM)方法进行关联分析。GLM模型分析得到7个细条病抗性表型关联位点,分布于2号、3号、8号、11号和12号染色体,MLM模型分析得到4个细条病抗性表型关联位点。所获得的这些关联位点中有2个与前人鉴定的位点共定位,5个为新的细条病抗性关联位点。我们在两种模型分析所获得的相同的抗性表型关联位点中鉴定得到28个候选基因。这些基因为水稻抗细条病抗性育种提供新的基因资源,也为细条病抗性分子机制研究奠定基础。

  • 单位
    亚热带农业生物资源保护与利用国家重点实验室

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