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摘要
通过对绝缘子材料使用和有限元原理的研究,结合有限元方法对污秽绝缘子模型进行分析得出表面温度分布规律。利用ANSYS软件建立XP-70型号绝缘子3D模型;通过有限元方法将3D模型进行网格划分并利用相同的激励电压对不同污秽程度的3D绝缘子模型进行施压得到热流密度和表盘温度分布趋势。实验结果表明,不同污秽程度下绝缘子模型表面热流密度、表盘温度的分布规律相同;其最大热流密度和最大温度值均与污秽程度成正比。相同污秽程度的条件下,绝缘子表盘温度先升高后降低。研究结论可为红外检测绝缘子污秽程度理论提供一定的参考。
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