摘要
目的:研究光学相干断层成像(OCT)技术对牙本质的成像及量化测定能力。方法:磨除20颗下颌中切牙舌侧釉质,显微CT扫描并构建牙齿三维数字模型,标记每颗牙齿舌侧面牙本质最薄处为a点并测量该位点牙本质厚度,OCT扫描相同位点处,获取牙本质OCT影像,并测量对应牙本质厚度。测量结果采用Student’s t检验及相关回归分析。结果:同一位点牙本质厚度OCT测量值显著大于显微CT测量值(P=0.004),但两者间呈显著正相关联(R2=0.9877,P<0.05)。结论:OCT可以用来对髓腔表面牙本质厚度进行无创定量测定。
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