科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
针对利用自动测试设备测试Nand Flash电路的功能时，遇到坏块就会判定Nand Flash功能失效的问题，对Nand Flash功能测试优化方法进行了研究，使用自动测试设备（ATE）测试系统的紧凑型故障存储器（CFM）的功能，通过纠错码（ECC）将测试结果实时捕获到CFM中，测试程序从CFM中即可读取测试通过或者失败的判断，从而可以更加清晰地判别电路存储单元的性能，解决了在测试Nand Flash电路过程中遇到坏块就判定其功能失效的问题。
-
单位中国电子科技集团公司第五十八研究所
