电晕放电老化对高温硫化硅橡胶材料陷阱特性的影响

作者：宋伟; 申文伟; 王国利; 王育路; 张冠军

来源：高电压技术, 2013, (04): 979-986.

• 复合绝缘子
• 高温硫化
• HTV
• 电晕放电
• 老化
• 电子陷阱
• 空穴陷阱
• SEM分析
• XPS分析 composite insulator
• high temperature vulcanized
• corona discharge
• aging
• electron traps
• hole traps
• SEM analysis
• XPS analysis

随着运行年限的增加,在役复合绝缘子的老化现象逐渐凸显,严重影响电力系统的安全。为此,首先针对在不同电晕强度(电压和时间)下老化后的高温硫化(HTV)硅橡胶试样,研究了材料表面陷阱特性、表面微观形貌(SEM)和元素特性(XPS)的变化规律,然后分析了不同年限的在役复合绝缘子伞裙材料的陷阱特性。研究表明,随着电晕电压或老化时间的增加,电子和空穴陷阱密度不断增加,最后趋向饱和水平。SEM和XPS分析结果表明,老化后材料表面出现大量孔洞等缺陷,强极性基团数量增加,分别作为物理和化学陷阱对陷阱特性产生影响。对于现场复合绝缘子伞套材料,其电子和空穴陷阱密度也呈现随运行时间增加而增长的类似规律,其中空穴陷阱...

• 单位
  电力设备电气绝缘国家重点实验室; 陕西省电力公司; 西安交通大学