65Mn卡箍氢脆断裂失效分析

作者：胡小华; 陈兴安; 马林; 许磊; 马丽莎

来源：金属制品, 2015, 41(03): 59-61.

• 65Mn
• 氢脆
• 镀锌
• 断裂
• 扫描电镜
• 能谱分析

厚度0.5 mm飞机座舱照明用65Mn卡箍装配过程中出现裂纹,扳动后断裂。采用能谱分析、扫描电镜等对断口处进行分析,结果表明:卡箍断裂件化学成分符合标准;断口大多为沿晶断裂,晶界面上有发纹线,未发现二次裂纹,部分断裂为穿晶断裂,未发现断口边缘有加工损伤痕迹;能谱分析未在晶界上发现杂质元素;金相组织为回火索氏体;显微硬度符合标准要求。卡箍产生断裂的主要原因:由于壁厚太薄,拐角较锐利,镀锌时致使大量氢聚集并呈弥散分布,进而形成沿晶裂纹,在外力作用下,导致沿晶脆性断裂。