运算放大器类元器件板级应用验证装置设计

作者:李进利; 侯天明; 王小强
来源:电子元器件与信息技术, 2023, 7(01): 68-72.
DOI:10.19772/j.cnki.2096-4455.2023.1.016

摘要

随着电子元器件国产化需求日益强烈及国产元器件研发水平逐步提高,国产化电子元器件在不同领域的应用越来越广泛。针对国内新研运算放大器类电子元器件在武器、航空、航天等特殊行业领域的装备上装应用的困难现状,依据应用验证专项工程在元器件研制过程通过器件级验证、板级验证,充分暴露元器件的问题,挑选出符合上装要求的元器件。本文基于应用验证工程中运算放大器类板级验证需求,设计开发了运算放大器类板卡验证装置,全面覆盖了运算放大器验证技术指标,具有通用、高效、可靠的特点。

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