本发明涉及一种超声阵列扫查反演方法、系统、存储介质及设备,通过将若干次扫查获得的超声波数据与每次扫查时的阵列姿态信息和方位信息进行组帧,获得若干帧回波数据；通过对若干帧回波数据中不同纵深距离范围分别进行描点,得到不同纵深距离范围的扫查反演图,并通过整合得到被测物内部的三维反演图,直观显示出从被测物表面向内部不同纵深距离情况下的平面结构或缺陷情况,便于用户对被测物的质量及内部缺陷情况进行判断。
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