173Lu和174gLu衰变数据的测量

作者：师全林; 白涛; 刘杰; 商建波; 张小林; 代义华

来源：原子核物理评论, 2016, 33(04): 518-523.

• 173Lu
• 174Lu
• 半衰期
• γ射线发射几率
• HPGe

175Lu(n,2n)174m,gLu(n,2n)173Lu反应在高能中子通量监测中具有重要作用,其产物的放射性活度通常用HPGe探测器测量,这就需要174m,gLu和173Lu的半衰期和γ射线发射率等衰变数据必须准确无误。在主要的评价核数据库中,只有ENDF/B 7.1和JEFF 3.1.1数据库给出了173Lu和174Lu的半衰期和γ射线的发射几率等衰变数据,其中173Lu的γ射线发射几率ENDF/B 7.1库比JEFF 3.1.1库总体偏高,其他评价数据两个数据库非常一致。在中国原子能研究院的串列加速器上用20 Me V质子辐照金属Yb靶生产了含有173Lu,174m,gLu的放射性溶液,用激光共振电离质谱(LRIMS)和热表面电离质谱(TIMS)两种同位素稀释法测定了该溶液中173Lu和174m,gLu核素浓度,然后制备测量源在HPGe探测器上进行了近7年的跟踪测量,发现173Lu的半衰期为1.45 a,比目前评价的数据1.37 a高6.1%,636.1 ke Vγ射线发射几率的偏差最大,比ENDF/B 7.1的评价数据偏高7%。174gLu半衰期的测量结果 3.37 a,比评价数据3.31 a高约1.8%,174gLu 76.5 keV和1 241.8 ke Vγ射线的发射几率比ENDF/B 7.1的评价数据分别低1.87%和12.8%。

• 单位
  西北核技术研究所