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摘要
带外响应是紫外焦平面探测器的一个重要参数。作为一种宽禁带半导体材料,Al Ga N基紫外探测器在紫外探测领域中具有十分优秀的带外响应性能及带外抑制能力。报道了一种640×8元可见盲紫外焦平面探测器,其光谱响应范围为345363.5 nm。为了表征该焦平面探测器在宽光谱范围内的带外响应性能,使用单色仪对该器件进行了光谱扫描,扫描光谱范围涵盖了从紫外波段到近红外波段的光谱范围。其结果表示,该紫外焦平面探测器具有优秀的带外响应性能,在3001 160 nm光谱范围内,光谱带外响应比率仅为1.14%。
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单位传感技术国家重点实验室; 中国科学院上海技术物理研究所; 中国科学院大学
