基于STM32的简易电路特性测试系统设计

作者：秦绍明; 程登良^*

来源：绵阳师范学院学报, 2022, 41(11): 20-26.

DOI：10.16276/j.cnki.cn51-1670/g.2022.11.004

• STM32
• 电路测试系统
• 放大电路
• 幅频特性曲线

设计了一种基于STM32单片机控制的简易电路特性测试系统.被测电路测试板是分压式共射极三极管放大电路.测试系统采用外部DDS模块AD9851作为信号源，为被测电路提供0～1 V幅值、1 Hz～180 MHz频率、步长为1 Hz的标准正弦测试信号.该测试信号进行放大或衰减等预处理后得到Vi,输入到给定的被测电路测试板.测试板输出响应信号Vo,使用仪表放大器和OP放大器设计信号采集处理电路进行处理后，利用AD7324对信号进行模数转换.测试系统能实现输入-输出电阻的测量，且误差在1.5%以内，可以实现放大电路幅频特性测量，还具备故障诊断功能，能较好实现电路特性的自动化测试.

• 单位
  湖北汽车工业学院