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摘要
本发明公开一种电路板的可见光图像与红外图像之间的配准方法及装置。配准方法为：采用图像区域分块统计信息熵,并根据阈值,提取其高熵信息区域作为后续检测特征点的原始图像,在提高特征点质量的同时提升检测效率；选用FAST+SIFT算法相结合的方法提取图像特征点；采用改进的SIFT特征点环形描述子；根据FLANN匹配法与改进的RANSAC算法,完成特征点匹配与误匹配剔除,从而实现图像的精匹配。本发明在图像匹配时,通过选择更能体现出图像特征的点进行匹配,在保证匹配精度的同时改善了传统SIFT算法在进行特征点提取时效率较慢,响应强度不高的问题,在配准效率与精度上相比于传统算法均有明显提高。
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单位合肥工业大学; 中国电器科学研究院股份有限公司
