基于STM32的非接触物体尺寸形态测量系统

作者:徐贤炜; 郭履宝; 刘子国; 夏鲲
来源:电子技术应用, 2021, 47(12): 79-82.
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.211745

摘要

目前工件尺寸检测主要依靠机械式测量或人工测量,存在检测困难、效率低等问题。针对该状况,设计了一套非接触物体尺寸形态测量系统。该系统采用STM32单片机作为核心处理器;采用OpenMV和激光测距传感器作为非接触检测单元,以实现测量目标物体颜色、形状、尺寸及距离等信息的功能。同时,该系统中激光管的方向由舵机控制,以达到快速跟踪目标物体中心的目的。实验结果表明,该装置能够准确测量目标物体的颜色、形状,且可以得到高精度的物体尺寸及距离并快速跟踪目标物体的中心位置。