电容器长期贮存可靠性研究

作者：李坤兰; 邱森宝

来源：电子元件与材料, 2010, (09): 70-73.

DOI：10.14106/j.cnki.1001-2028.2010.09.014

• 电容器
• 贮存可靠性
• 失效率
• 失效模式
• 贮存敏感参数
• 贮存寿命 capacitor
• storage reliability
• failure rate
• failure mode
• storage sensitive parameter
• storage life

在A(寒温)、B(亚湿热-入海口)、C(亚湿热-内陆)、D(热带海洋)四地开展了14个型号电容器的150个月贮存试验,研究了累积失效样品数变化趋势、贮存失效模式、贮存敏感参数和贮存寿命。结果表明:A地较适合电容器长期贮存;电容器的主要贮存失效模式是参数超差,贮存敏感参数是漏电流或损耗角正切;在这14种电容器中,有机薄膜电容器贮存可靠性最好,平均贮存寿命远超150个月;铝电解电容器(CDK—X)贮存可靠性最差,平均贮存寿命仅为1.875个月。

• 单位
  工业和信息化部电子第五研究所