摘要

概述RF-MEMS开关的应用现状,针对RF-MEMS开关封装后射频性能恶化的问题,分析了封装的必要性,强调了单片级封装对功能化模块的集成优势;针对RF-MEMS开关的使用寿命不能满足系统应用的问题,比较不同的切换方式下的使用寿命,介绍冷切换与射频信号通断的时间关系,给出了一种延长开关使用寿命的解决方案。进一步推动RF-MEMS开关在系统方面的应用。