塑封微电路超声扫描检测的局限性

作者:李青松; 罗向阳; 王瑞崧; 潘凌宇; 张吉; 雷鸣; 郑丹
来源:电子与封装, 2018, 18(12): 8-11.
DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0129

摘要

超声扫描检测技术应用越来越广泛,在半导体器件、材料和生物医学等领域均利用了超声扫描技术。对超声扫描检测技术在塑封微电路中的应用进行了简要介绍,指出了超声扫描检测技术存在的一些局限性,并提出了一些检测改进建议。

  • 单位
    中国航天科工集团公司; 湖北三江航天万峰科技发展有限公司

全文