直流电弧原子发射光谱法测定超细碳化钨中痕量元素

作者：林小璇; 易辉平; 龙本夫; 张淑彬; 林高安

来源：冶金分析, 2021, 41(05): 41-45.

DOI：10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.011199

• 碳化钨
• 痕量元素
• 直流电弧原子发射光谱法

超细碳化钨(WC)主要用于生产棒材硬质合金,一般含有0.1%～1.0%的碳化钒(VC)或碳化铬(Cr3C2),具有细化晶粒作用,提高棒材合金强度。超细碳化钨中痕量元素对合金性能具有重要的影响。因此建立一种快速测量超细碳化钨中痕量元素检测方法具有重要的生产指导意义。实验采用直流电弧原子发射光谱仪,建立了快速测量超细碳化钨中16种痕量元素检测方法。通过激发条件实验,确认了各元素的起弧电流为5A,激发电流为12A,电极极距为4mm。对空白电极重复测量,确定方法的检出限低于1μg/g,其中As的检出限为1.35μg/g。测量内控WO3标样,平均值结果与标样标准值相差小于1μg/g,两次测量结果的差值不大于1.5μg/g,表明方法准确性和重复性满足质量管控需求。对内控超细WC标样测量1周,Fe、Ni、Co、Si、Ca、Ti、Mg、Mn、Al、As、Sb、Bi、Cu、Cd、Pb和Sn的标准偏差均小于1μg/g,方法稳定性良好,满足碳化钨中痕量元素日常分析要求。