针对模拟集成电路在线测试困难的特点,本文基于BIST结构对模拟集成电路的测试提出了一种新的测试方案,这种算法在测试电路中易于实现,并且容易嵌入到待测芯片中,为模拟集成电路可测试性设计提出了一种新的测试结构和测试算法。
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