静态随机存储器抗总剂量辐射性能筛选在线测试系统

作者：于跃; 郭旗; 任迪远; 李鹏伟

来源：核电子学与探测技术, 2010, 30(03): 328-331+389.

• SRAM
• 测试系统
• 60Coγ总剂量
• 损伤机理 static random access memory
• testing system
• total dose
• damage mechanism

研制了一套SRAM总剂量辐射效应在线测试系统,该系统可同时对多个SRAM器件进行总剂量辐照效应在线测试,获得在γ辐照环境中静态功耗电流和出错数随总剂量的变化关系。进行了实际的SRAM器件辐照试验,测量得到了不同批次参数辐射响应的差异,并分析SRAM静态功耗电流和出错数受γ辐照的损伤机理。

• 单位
  中国科学院研究生院; 中科院新疆理化所