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摘要
模拟电路可测性设计中的测试节点选择方法通常使用一个电压阈值来确定所有故障的模糊程度，但实际上不同的故障需要的电压阈值是不同的.针对电压阈值设定问题，提出了一种基于聚类的故障混叠度计算方法，用于度量故障间的模糊程度.在此基础上，设计了一种模拟电路多目标测点选择方法，用于平衡测点数和隔离的故障数量之间的关系，以在尽可能少的测点数量下获得最大的故障隔离数.首先，利用小波包变换提取模拟信号特征；然后，通过聚类计算不同故障间的混叠度；最后，以故障隔离度和测点数量为目标，采用非支配排序遗传算法(NSGA-II)搜索测点集，实现模拟电路的测点选择.实验结果表明，相较于现有的测点选择方法，该方法在测点数量尽可能少的情况下可以获得最大的故障隔离数，实现了测点的优选.
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